適合 WBG 和其他高功率裝置的 I-V 特性分析功能，精確、高效又簡單

當業界在 5G 系統、汽車元件和替代能源系統中推動更高效的高電壓半導體的同時，卻也明顯地提升了測試和研究寬頻帶間隙半導體的複雜性。如果您正在使用如 GaN 和 SiC 等新材料來開發裝置架構、感應器、功率 IC 和功率模組或大規模生產寬頻帶間隙半導體，則您就處於分析和測試這些高電壓、高功率元件的核心，而且執行的時間也相對非常緊迫。

新型 2470 高電壓系統 SourceMeter® SMU 儀器可提供高達 1100 V 的電壓，並具有 10 fA 量測能力。利用其觸控式螢幕使用者介面、程式設計靈活性以及連線能力和擴展功能，您可以更快地從測試結果中獲得深入洞察和確定性，從而提高工作效率。  

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