瞭解如何有效節省開發時間並改善測試結果
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使頻率響應量測更快、更準確
電子設計工程師在分析設計的特性時,必須面對耗時的頻率響應測試,而且可能會在不同的頻率上進行多達 100 次測試,甚至得花費更多時間將資料整合至頻率響應曲線中。請閱讀本應用摘要,瞭解如何使用 Tektronix AFG31000 任意函數產生器、MDO3000 混合域示波器和 TekBench™ 軟體,只需透過幾個步驟即可自動執行這些量測,進而節省大量的時間並降低發生錯誤的機率。
瞭解如何進行 ⟩
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