利用最新一代的示波器輕鬆進行 EMI 疑難排解

目前市場上已有多種測試儀器技術可用於疑難排解，能有效地找出影響相容性結果的發射來源。在許多情況下，若能採用具有時間關聯的射頻量測功能的示波器 (例如配備有 Spectrum View 的 Tektronix 4、5 或 6 系列 MSO)，將可顯著地加快疑難排解的速度，並有效簡化找出根本原因的過程。本應用摘要將探討其中的一些疑難排解方法。

• 瞭解如何執行相容性量測
• 探索可降低測試失敗風險的技術
• 瞭解如何進行疑難排解以找出根本原因

別讓您的產品開發時間表陷入不確定的風險。