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介紹各類材料電學特性參數測試方案,持續釋放新材料的潛力
每一次半導體材料的突破所帶來的皆是一系列技術變革,也使尖端的新型裝置研發問世成為可能。3D Flash 記憶體、人工智慧晶片、MEMS/感測器晶片、GaN/SiC 功率半導體裝置在前所未有的應用領域中推動半導體產業的發展。 各種新的應用標準、材料特性、設計和測試方式、生產製程、半導體下線技術 (Semiconductor Tape-out Technology) 對測試設備和技術也帶來了嚴苛的挑戰。 4200A-SCS 參數分析儀是一款集多種測試功能為一體的材料測試平台,提供了同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈衝 I-V量測等功能。可進行以下測試:
我們根據客戶的測試痛點,編寫了 15 種 One Page 方案,協助您充分掌握新一代半導體材料的特性和實際應用。
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半導體的知識「盛宴」 半導體材料與裝置科學大講堂
每一次半導體材料的突破所帶來的皆是一系列技術變革,也使尖端的新型裝置研發問世成為可能。3D Flash 記憶體、人工智慧晶片、MEMS/感測器晶片、GaN/SiC 功率半導體裝置在前所未有的應用領域中推動半導體產業的發展;而各種新的應用標準、材料特性、設計和測試方式、生產製程,對測試設備和技術也帶來了嚴苛的挑戰。
Tektronix 作為專業的測試平台,將帶您從測試的角度,去剖析並解決半導體從設計到生產過程中帶來的一系列新問題。即將推出的半導體材料知識網路研討會,每期都有不同的熱門知識輪番上演,為您開啟新視界!敬請期待 !
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