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精準半導體參數分析系統-Precision Semiconductor Characterization and Analysis System
在快速發展的半導體研究領域，精確且可靠的測量至關重要。我們的精密半導體參數特性與分析系統，結合了先進的SourceMeter技術和尖端的系統集成，提供了一種變革性的解決方案，這一創新解決方案除了在Precision Classic IV、Transient IV和Pulse IV測量方面表現卓越，同時顯著降低成本，提升測試效率和精度，確保研究人員能夠獲得最可靠的數據支持。此外，在科研應用方面，本系統在前沿技術研究和高端製造中展現了極大的潛力。對於納米技術和量子元件開發等前沿研究，系統能夠提供高精度的測試數據，支持科技創新和進步。同時，在高端半導體製造過程中，該系統可用於質量控制和性能驗證，確保產品符合最高標準，提升產品的可靠性和市場競爭力。這一解決方案不僅助力研究人員在實驗室中取得突破，也為企業在市場中獲得更高的競爭優勢提供了有力支持。最後，此系統也已成功與順利地取代傳統系統如Agilent 4156C、Keysight B1500A和Keithley 4200A的許多新應用。
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- 特色
- 規格
- 下載
- 比較
1. 超高精度: Sub-pA測量能力， 能夠在Sub-pA級別的測試中實現前所未有的精度，滿足最苛刻的測試需求，尤其適用於納米技術（Nanotechnology）和量子元件（Quantum Devices）等先進的研究。同時，具有fA等級的Resolution數據，提供高精度、高分辨率的測量數據，確保每一次測試結果的可靠性和重現性。
2. 先進測試技術: 提供雙模式操作，支持直流（DC）和脈衝（Pulse）測試模式，滿足不同應用場景的需求，從靜態參數測試到暫態響應量測，大大地超越傳統半導體量測系統。此外，整合與應用尖端科研創新測試手法(e.g., Step Stress Method)，結合最新的SourceMeter技術和前沿的測試方法，提升測試的準確性和可靠性。
3. 靈活性與擴展性：系統採用模組化設計，易於升級和擴展，能夠根據不同的研究需求進行調整和優化，適應未來技術的發展。(e.g., Parallel Measurement)
4. 多功能系統整合：整合多種測試功能，能夠靈活應對各種測試挑戰，從而提高研究和開發的效率。
5. 專業技術支持：提供全面的技術支持和培訓服務，確保系統的最佳使用效果，讓研究人員能夠充分發揮設備的性能。
6. 客製化解決方案：根據客戶的特定需求，提供定制化的解決方案，確保測試方案的最佳適用性和效率。
電源/量測能力：
- 電流最大值/最小值：1.5A直流、10A脈衝/1fA
- 電壓最大值/最小值: 200V/ 100nV
- 通訊介面：USB, GPIB, Ethernet
- 作業系統：Windows 11, Windows 10
- 工作溫度：0°C至50°C
- 尺寸：400mm x 300mm x 150mm
- 重量：8kg (含專用NB)
- 另外可選配超實用的手點探針台組進行Wafer Level的精準量測
與市場上其他同類產品相比，此自動量測系統在以下幾個方面具有明顯優勢：
ü 性價比：提供更高的性能和可靠性，但價格更具競爭力。
ü 易用性：用戶界面更加友好，操作簡便。
ü 技術支持：提供專業及時的技術支持服務。
ü 擴展性：更靈活的擴展選項，能夠滿足未來需求。
ü 客制服務：能根據客戶需求提供量身定制的解決方案，而非僅提供標準產品。